Beschreibung des Vortragsthemas 17:

Konvergente und parallele (Bragg) Beugung

- Einleitung und Grundlagen
- Feinbereichsbeugung (selected area electron diffraction SAED)
- Konvergente Beugung (convergent beam electron diffraction (CBED)
- Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM)
- HAADF (high angular annular dark field)